在测试系统中，测试产品在特定条件下和指定时间内执行指定功能的能力是可靠性。测试系统的每个部分都会不同程度地影响整个系统的可靠性，并且由于部分故障导致的系统故障概率也不同。随着存储测试技术的发展，存储测试系统逐步模块化，标准化和系列化。如果将某些功能模块制成ASIC，则满足测试设备动态测试的要求，大大提高了存储测试系统的可靠性。图1显示了使用ASIC设计的存储器测试系统。电荷放大器是测试系统中的串联链路，因此其故障直接影响整个系统的故障。图2显示了电荷放大器的原理图。压电晶体受到压力以产生电荷Q; Ca是传感器间电容，Qa是此时充入Ca的电荷; Cc是传感器传输电缆的电容，Qc是此时充电到Cc的电荷，Gc是输入电缆漏电导; Ci是电荷放大器的输入电容，Qi是此时充入Ci的电荷，Gi是放大器的输入电导; Ud是此时在运算放大器的反相输入端产生的差分电压; Cf是电荷放大器的反馈电容，施加到Cf的电压是Ud和输出电压U0之间的差值，Qf是此时充电到Cf的电荷，Gf是放大器的反馈电导;运算放大器的开环系数为A，由于电压为反向输入，因此：U0 = -A×Ud因此，跨越Cf的电压为：Ucf = Ud - （ - A×Ud）= Ud× （1 + A）假设反馈电阻Rf的电阻是无穷大的：Q = Qa + Qc + Qi + Qf = Ud×（Ca + Cc + Ci +（1 + A）Cf）因此，部分数量级可以在精度范围内被忽略，可以认为是：根据传感器的充电灵敏度和范围和反馈计算电容器输出的最大电压。